ГОСТ 24613.8-83 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Методы измерения критической скорости изменения напряжения изоляции

Настоящий стандарт распространяется на оптоэлектронные интегральные микросхемы и оптопары, в том числе переключатели логических сигналов, и устанавливает два метода измерения критической скорости изменения напряжения изоляции: прямой и косвенный.
Косвенный метод применяют при наличии вывода от входа встроенной микросхемы, входящей в состав проверяемого прибора

Обозначение:	ГОСТ 24613.8-83
Статус:	действующий
Название рус.:	Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Методы измерения критической скорости изменения напряжения изоляции
Название англ.:	Optoelectronic integrated microcircuits and optocouples. Methods for measuring of critical change rate of dielectric voltage
Дата актуализации текста:	06.04.2015
Дата актуализации описания:	10.08.2017
Дата издания:	09.09.1983
Дата введения в действие:	30.06.1984
Дата последнего изменения:	13.07.2017
Область и условия применения:	Настоящий стандарт распространяется на оптоэлектронные интегральные микросхемы и оптопары, в том числе переключатели логических сигналов, и устанавливает два метода измерения критической скорости изменения напряжения изоляции: прямой и косвенный. Косвенный метод применяют при наличии вывода от входа встроенной микросхемы, входящей в состав проверяемого прибора
Список изменений:	№0 от 28.06.1988 (рег. 27.06.1988) «Срок действия продлен»
Страниц:	6
Ссылки для скачивания:	Скачать ГОСТ 24613.8-83 в формате GIF Скачать ГОСТ 24613.8-83 в формате PDF