ГОСТ 4.64-80 Система показателей качества продукции. Полупроводниковые материалы. Номенклатура показателей

Настоящий стандарт устанавливает номенклатуру основных показателей качества объемных монокристаллов полупроводниковых материалов, включаемых в ТЗ на НИР по определению перспектив развития этой группы продукции, государственные стандарты с перспективными требованиями, а также номенклатуру показателей качества, включаемых в разрабатываемые и перспективные стандарты на продукцию, ТЗ на ОКР, технические условия, карты технического уровня и качества продукции

Обозначение:	ГОСТ 4.64-80
Статус:	действующий
Название рус.:	Система показателей качества продукции. Полупроводниковые материалы. Номенклатура показателей
Название англ.:	Production quality system. Semiconductor materials. Indices nomenсlature
Дата актуализации текста:	06.04.2015
Дата актуализации описания:	10.08.2017
Дата издания:	01.02.1985
Дата введения в действие:	30.06.1981
Дата последнего изменения:	13.07.2017
Переиздание:	переиздание с изм. 1
Область и условия применения:	Настоящий стандарт устанавливает номенклатуру основных показателей качества объемных монокристаллов полупроводниковых материалов, включаемых в ТЗ на НИР по определению перспектив развития этой группы продукции, государственные стандарты с перспективными требованиями, а также номенклатуру показателей качества, включаемых в разрабатываемые и перспективные стандарты на продукцию, ТЗ на ОКР, технические условия, карты технического уровня и качества продукции
Список изменений:	№1 от 01.07.1985 (рег. 13.03.1985) «Срок действия продлен»
Страниц:	11
Ссылки для скачивания:	Скачать ГОСТ 4.64-80 в формате GIF Скачать ГОСТ 4.64-80 в формате PDF