На главную
На главную

ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей

Настоящий стандарт устанавливает нейтронно-активационный метод определения примесей в нелегированном полупроводниковом кремнии и кварце.
Метод не распространяется для анализа кремния марок КЭС-0,01 и КЭМ-0,01

Обозначение: ГОСТ 26239.5-84
Статус: действующий
Название рус.: Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей
Название англ.: Semiconductor silicon and quartz. Method of impurities determination
Дата актуализации текста: 06.04.2015
Дата актуализации описания: 10.08.2017
Дата издания: 21.01.1985
Дата введения в действие: 01.01.1986
Дата последнего изменения: 13.07.2017
Список изменений: №1 от 01.01.1991 (рег. 25.06.1990) «Срок действия продлен»
Страниц: 18
Ссылки для скачивания:
73
Мне нравится
Комментировать Добавить в закладки

Комментарии могут оставлять только зарегистрированные пользователи.

Пожалуйста зарегистрируйтесь или авторизуйтесь на сайте.