ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей

Настоящий стандарт устанавливает нейтронно-активационный метод определения примесей в нелегированном полупроводниковом кремнии и кварце.
Метод не распространяется для анализа кремния марок КЭС-0,01 и КЭМ-0,01

Обозначение:	ГОСТ 26239.5-84
Статус:	действующий
Название рус.:	Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей
Название англ.:	Semiconductor silicon and quartz. Method of impurities determination
Дата актуализации текста:	06.04.2015
Дата актуализации описания:	10.08.2017
Дата издания:	21.01.1985
Дата введения в действие:	01.01.1986
Дата последнего изменения:	13.07.2017
Область и условия применения:	Настоящий стандарт устанавливает нейтронно-активационный метод определения примесей в нелегированном полупроводниковом кремнии и кварце. Метод не распространяется для анализа кремния марок КЭС-0,01 и КЭМ-0,01
Список изменений:	№1 от 01.01.1991 (рег. 25.06.1990) «Срок действия продлен»
Страниц:	18
Ссылки для скачивания:	Скачать ГОСТ 26239.5-84 в формате GIF Скачать ГОСТ 26239.5-84 в формате PDF