.svg){kind=icon}
.webp "Новатика")
Стандарт устанавливает методику выполнения измерений межплоскостных расстояний в кристаллах, кристаллических тонких пленках и покрытиях, нанокристаллах и иных образцах толщиной не более 200 нм с помощью просвечивающего электронного микроскопа. Стандарт применяют для определения межплоскостных расстояний в кристаллах в диапазоне линейных размеров от 0,08 до 10,00 нм в режиме дифракции и в диапазоне линейных размеров от 0,2 до 10,0 нм в режиме изображения.
| Обозначение: | ГОСТ Р 8.697-2010 |
| Название рус.: | Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа |
| Статус: | действует |
| Дата актуализации текста: | 05.05.2017 |
| Дата добавления в базу: | 01.09.2013 |
| Дата введения в действие: | 01.09.2010 |
| Утвержден: | 10.02.2010 Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии (11-ст) |
| Опубликован: | Стандартинформ (2010 г. ) |
| Ссылки для скачивания: |
