На главную
На главную

Государственная система обеспечения единства измерений. Методические указания. Микроскопы измерительные МИР-3. Методика поверки

Методические указания распространяются на микроскопы измерительные МИР-3 и устанавливают методы и средства их первичной и периодической поверки

Обозначение: МИ 734-85
Название рус.: Государственная система обеспечения единства измерений. Методические указания. Микроскопы измерительные МИР-3. Методика поверки
Статус: действует
Дата актуализации текста: 05.05.2017
Дата добавления в базу: 12.02.2016
Утвержден: НПО ВНИИМ им. Д.И. Менделеева
Опубликован: Госстандарт России (1992 г. )

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СТАНДАРТОВ
СОВЕТА МИНИСТРОВ СССР

Методические указания

Микроскопы измерительные МИР-3

Методика поверки

МИ 734-85

Ленинград

1985

РАЗРАБОТАНА Трижды ордена Ленина Ленинградским оптико-механическим объединением имени В.И. Ленина

ИСПОЛНИТЕЛИ: Начальник лаборатории - И.Л. Зарубина, М.И. Давыдова

УТВЕРЖДЕНА Научно-производственным объединением «Всесоюзного ордена рудового красного Знамени научно-исследовательского института метрологии имени Д.И. Менделеева»

СОДЕРЖАНИЕ

Настоящие методические указания распространяются на микроскопы измерительные МИР-3 и устанавливают метода и средства их первичной и периодической поверки.

1. ОПЕРАЦИИ И СРЕДСТВА ПОВЕРКИ

1.1. При проведении поверки должны быть выполнены следующие операции и применены средства поверки с характеристиками, указанными в таблице

Наименование операции

Номер пункта методических указаний

Средства поверки и их нормативно-технические характеристики

Обязательность проведения операции

при выпуске из производства

при ремонте

при эксплуатации

Внешний осмотр

3.1

-

Да

Да

Да

Опробование

3.2

 

 

 

 

Проверка перемещения выдвижной трубки, хомутика, и крепления его на микроскопе

3.2.1

-

Да

Да

Да

Проверка неподвижности выдвижной трубки микроскопа по отношению к тубусу под нагрузкой

3.2.2

Штатив Ш-II или Ш-III, или стойка СУ-IV по ГОСТ 10197-70;

Гиря массой 500 г по ГОСТ 7328-82, класс 4

Да

Да

Нет

Определение метрологических характеристик

3.3

 

 

 

 

Определение погрешности микроскопа

3.3.1

Двухкоординатный измерительный прибор ДИП-4 или ДИП-1 или измерительный универсальный микроскоп УИМ-29, или УИМ-23, или УИМ-21;

держатель (черт. 1 справочного приложения);

центрировочная пластина (черт. 2 справочного приложения)

Да

Да

Нет

1.2. Допускается применять отдельные, вновь разработанные и находящиеся в применении средства поверки, прошедшие метрологическую аттестацию в органах государственной метрологической службы и удовлетворяющие по точности требованиям настоящих технических указаний.

2. УСЛОВИЯ ПОВЕРКИ И ПОДГОТОВКА К НЕЙ

2.1. При проведении поверки должны быть соблюдены следующие условия: температура воздуха в помещении должна быть (20 ± 5) °С, относительная влажность воздуха должна быть не более 80 %.

2.2. Перед проведением поверки с металлических частей микроскопа удалите пыль чистой сухой салфеткой. Пыль с поверхностей линз удалите чистой батистовой салфеткой, а жировые налеты и пятна-ватным тампоном, слегка смоченным чистым бензином или эфиром.

3. ПРОВЕДЕНИЕ ПОВЕРКИ

3.1. Внешний осмотр

При внешнем осмотре должно быть установлено соответствие микро скопа следующим требованиям:

3.1.1. Комплектность должна соответствовать указанной в паспорте микроскопа.

3.1.2. На наружных поверхностях микроскопа не должно быть подтеков краски и лака, вмятин и других дефектов, ухудшающих внешний вид микроскопа.

3.1.3. На металлических поверхностях деталей не должно быть забоин и следов коррозии, нарушающих нормальную работу микроскопа.

3.1.4. Все надписи, деления и цифры должны быть четкими и тщательно заполнены краской.

3.1.5. В поле зрения окуляра не должно наблюдаться срезания штрихов и цифр.

3.2. Опробование

При опробовании должно быть установлено соответствие микроскопа следующим требованиям:

3.2.1. Перемещение выдвижной трубки внутри тубуса микроскопа должно быть плавным без заметных рывков и заеданий. Хомутик должен перемещаться вдоль корпуса микроскопа без заеданий при отжатом зажимном винте. Хомутик должен надежно закрепляться зажимным винтом на корпусе микроскопа.

3.2.2. Выдвижная трубка микроскопа при длине тубуса Т60 мм должна оставаться неподвижной по отношению к тубусу при нагрузке ее в продольном направлении 4,9Н.

Для проверки неподвижности закрепите микроскоп на штативе или на стойке, установите длину тубуса 160 мм по шкале, установите на окуляр гирю массой 500 г и убедитесь, что показание шкалы осталось неизменным.

3.3. Определение метрологических характеристик

3.3.1. Погрешность определяют с помощью прибора ДИП или УИМ центрировочной пластины и держателя.

Установите вместо объектива прибора ДИП или УИМ держатель (черт. 1 справочного приложения). Разверните ось 1 во втулке 2 так, чтобы валик 3 расположился вдоль направления каретки продольного перемещения и закрепите винтом 4. Установите поверяемый микроскоп с помощью ушка хомутика на валик 3 приблизительно перпендикулярно поверхности стола и закрепите его в этом положении винтом 5. Валик 3 закрепляется на оси 1 с помощью винта 6. Поместите на стол прибора. ДИП или УИМ под объектив поверяемого микроскопа, лист белой бумаги размером не более 100×100 мм, на бумагу поместите центрировочную пластину (черт. 2 справочного приложения). Установите на поверяемом микроскопе длину тубуса 160 мм; наблюдая в окуляр поверяемого микроскопа сфокусируйте его на резкое изображение перекрестия центрировочной пластины с помощью визирной системы прибора ДИП или УИМ, предварительно установив глазную линзу окуляра в положение резкого изображения шкалы окуляра. Разворотом окуляра, установите линию перекрестия, пересекающую шкалу окуляра микроскопа вдоль направления движения каретки продольного перемещения, при этом не должно наблюдаться смешения изображения центра переместил центрировочной пластины относительно указанной линии при движении каретки продольного перемещения.

С помощью регулировочных винтов стола установите один из штрихов переместил центрировочной пластины параллельно штрихам шкалы и соответствующей линии перекрестия поверяемого микроскопа. Совместите линию перекрестия со «0» штрихом шкалы окуляра микроскопа с помощью перемещения каретки продольного перемещения прибора ДИП или УИМ, снимите показание А0 прибора УИМ или установите «0» на приборе ДИП, линии переместите каретку до совмещения изображения перекрестия последовательно с 25, 50, 75 и 100 штрихами, снимите соответствующие показания А25, А50, А75 и А100. Вычислите разности показаний Li = Аi - А0. Определите соответствующие показания поверяемого микроскопа В25, В50, В75 и B100, умножив число делений «n» на цену деления «с», указанную в паспорте микроскопа

Bi = nc

Показания микроскопа В25, В50, В75 и B100 не должны отличаться от соответствующих значений В25, В50, В75 и B100 более чем на 1/2 цены деление шкалы микроскопа.

Аналогично определяют погрешность при длине тубуса 190 мм.

4. ОФОРМЛЕНИЕ РЕЗУЛЬТАТОВ

4.1. При выпуске из производства микроскопов результаты их поверки заносятся в паспорт.

4.2. При периодической поверке и при поверке после ремонта на микроскопы, признанные годными, выдаются свидетельства установленной формы.

4.3. Результаты ведомственной поверки оформляются в порядке, установленном ведомственной метрологической службой.

4.4. Гироскопы, не удовлетворяющие требованиям настоящих методических указаний, к выпуску и применению не допускаются, а выданные свидетельства должны быть аннулированы или в паспорте должна быть сделана запись о непригодности микроскопа.

Приложение
Справочное

Черт. 1. Держатель

1 - ось; 2 - втулка; 3 - валик; 4, 5, 6 - винт

Черт. 2. Пластина центрированная

76
Мне нравится
Комментировать Добавить в закладки

Комментарии могут оставлять только зарегистрированные пользователи.

Пожалуйста зарегистрируйтесь или авторизуйтесь на сайте.