Меню
Навигация
Пробный доступ к системе Гарант

Государственная система обеспечения единства измерений. Стандартные образцы состава монолитных и дисперсных материалов. Способы оценивания однородности

Стандарт распространяется на стандартные образцы (СО) состава монолитных материалов для спектрального анализа и на СО состава дисперсных материалов и устанавливает порядок проведения экспериментов и алгоритм обработки результатов при оценивании характеристик однородности в процессе аттестации СО.

Обозначение: ГОСТ 8.531-2002
Название рус.: Государственная система обеспечения единства измерений. Стандартные образцы состава монолитных и дисперсных материалов. Способы оценивания однородности
Статус: действует
Заменяет собой: ГОСТ 8.531-85 «Государственная система обеспечения единства измерений. Однородность стандартных образцов состава дисперсных материалов. Методика выполнения измерений» МИ 1709-87 «Методические указания. Однородность стандартных образцов состава монолитных материалов для спектрального анализа. Методика выполнения измерений»
Дата актуализации текста: 05.05.2017
Дата добавления в базу: 01.09.2013
Дата введения в действие: 01.03.2003
Утвержден: 13.08.2002 Госстандарт России (Russian Federation Gosstandart 299-ст)30.05.2002 Межгосударственный Совет по стандартизации, метрологии и сертификации (Inter-Governmental Council on Standardization, Metrology, and Certification 22)
Опубликован: ИПК Издательство стандартов (2002 г. ) ИПК Издательство стандартов (2003 г. ) Стандартинформ (2008 г. )
Ссылки для скачивания:

МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ

Государственная система обеспечения единства измерений

СТАНДАРТНЫЕ ОБРАЗЦЫ СОСТАВА
МОНОЛИТНЫХ И ДИСПЕРСНЫХ МАТЕРИАЛОВ

Способы оценивания однородности

ГОСТ 8.531-2002

МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СОВЕТ
ПО квадрат отклоненийрезультатов измерений от средних значений для каждой пробы

(6)

и между пробами

(7)

Характеристику однородности оценивают поформуле

(8)

Если , то полагают

(9)

где М - наименьшая представительная пробаСО.

5.5 Оценивание характеристики однородности по компонентам-индикаторам

В качестве компонентов-индикаторов выбирают компоненты,относительно которых из литературных данных или на основании предварительныхисследований известно, что их распределение в материале СО имеет наибольшуюнеоднородность.

По выбранным I компонентам-индикаторамоценивают в соответствии с 5.1- 5.4характеристики однородности Sнi (i = 1, 2,..., I). Каждую характеристику однородности для i-го компонента-индикатораоценивают для пробы массой Мoi и наименьшей представительной пробы Мi

5.6 Для любого другогоаттестуемого компонента, не входящего в число компонентов-индикаторов,характеристику однородности оценивают следующим образом.

Вычисляют относительные характеристикиоднородности компонентов-индикаторов

(10)

где Аi - аттестационноезначение СО i-го компонента-индикатора илисреднее арифметическое результатов для i-го компонента по формуле (2).

Вычисляют среднюю характеристикуоднородности и среднюю массу проб для компонентов-индикаторов по формулам:

(11)

и

(12)

Характеристику однородности дляаттестуемых компонентов, не входящих в число компонентов-индикаторов, оцениваютпо формуле

(13)

где А - аттестованное значение СО;

М - наименьшая представительная проба СО для данногокомпонента.

5.7 Пример оцениванияоднородности дисперсного материала приведен в приложенииБ.

6Оценивание однородности монолитных материалов

6.1 Оценку характеристикоднородности проводят после отработки технологии получения материала СО,исключающей регулярные изменения содержании аттестуемого элемента, порядкаприготовления материала СО и разделения его на экземпляры.

6.2 Из общего количестваэкземпляров СО отбирают случайным образом К экземпляров СО (K ≥25).

6.3 Подготовляют на каждомотобранном экземпляре СО аналитические поверхности в соответствии с методикойспектрального анализа, используемой для оценивания однородности.

6.4 На каждой аналитическойповерхности проводят два измерения со случайным выбором места возбуждения приоценивании однородности эмиссионным методом или два измерения без измененияположения СО - при оценивании однородности рентгенофлуоресцентным методом.

6.5 После проведения измеренииразрезают каждый экземпляр СО по плоскости, параллельной аналитическойповерхности. Положение плоскости разреза на каждом экземпляре СО определяютслучайным образом на веси его длине (высоте). Подготовляют на срезах аналитическиеповерхности и проводят измерения в соответствии с 6.4.

6.6 Результаты измерении длякаждого аттестуемого элемента записывают в таблицу, форма которой приведена в приложенииВ (таблица В.1). В таблице принятыследующие обозначения:

i - номерэкземпляра СО (i = 1, 2,..., К);

j - номераналитической поверхности (j = 1, 2);

п - номер измерения (n = 1, 2);

Хijn - результат no измерения на j-й поверхности в iСО.

6.7 Вычисляют значенияследующих величин и записывают их в соответствующие столбцы таблицы:

- сумму результатов для j-й аналитической поверхности в iСО.

(14)

- сумму результатов для i-го экземпляра СО

(15)

- сумму квадратов результатовдля i-го экземпляра СО

(16)

6.8 В свободной таблицерезультатов, приведенных в 6.7, вычисляют суммы по столбцам, обозначенныесимволами от V до IX.

На основе данных в таблице результатоввычисляют следующие суммы квадратов:

SSBL = VIII – V2/(4 * K),

(17)

SSBB = VI – VIII,

(18)

SSW = IXVI,

(19)

SST = IXV2/(4 * K).

(20)

Для контроля правильности вычислений проверяютсоотношение между суммами квадратов. Если вычисления проведены правильно, тодолжно быть выполнено равенство

SSBL + SSBB + SSW = SST.

(21)

В том случае, если суммы квадратов удовлетворяютуравнению (21), вычисляют средние квадраты:

MSBL = SSBL/(K – 1),

(22)

MSBB = SSBB/K,

(23)

MSW = SSW/(2*K).

(24)

6.9 Вычисляют выборочноесреднее квадратическос отклонение

Sм = (1/3)*(MSW)0,5

(25)

где Sм характеризуетслучайную погрешность рснтгенофлуорссцснтного метода анализа. При оцениванииоднородности эмиссионным методом Sм характеризует суммарную погрешность, определяемую как случайнойпогрешностью метода, так и различием содержания аттестуемого элемента ваналитических объемах.

6.10 Оценки характеристикпогрешности Sмак и Sмик проводят в зависимости от соотношений между среднимиквадратами MSW, MSBB иMSBL по формулам, приведенным в таблице2. В таблице2 приняты следующие обозначения:

(26)

(27)

m - количествоизмерений для воспроизведения аттестованного значения СО эмиссионным методом.

Таблица 2 - Оценка характеристикSмак и Sмик при различных соотношениях между средними квадратами MSW, MSBB, MSBL

Соотношения между средними квадратами

Метод оценивания однородности

Рентгенофлуоресцентный

Эмиссионный

Sмак

Sмик

Sмак

Sмик

MSW > MSBB > MSBL

0

Sм

0

Sм/(m)0,5

MSW > MSBB, MSBB < MSBL

Sм

Sм/(m)0,5

MSW < MSBB, MSBB > MSBL

0

0

6.11 Оценку характеристикиоднородности Sн получают по формуле

Sн = (Sмак2 + Sмик2)0,5.

(28)

6.12 Пример расчетахарактеристики однородности СО состава монолитного материала для спектральногоанализа приведен в приложенииГ.

7Учет погрешности, обусловленной неоднородностью

Характеристику погрешности, обусловленнойнеоднородностью, учитывают при оценивании погрешности аттестованного значения CO(Daт) по формуле

Daт = (D2м + 4*S2н)0,5,

(29)

где Dм - погрешность метода, используемого для установления аттестованногозначения СО.

ПРИЛОЖЕНИЕ А
(справочное)

Форма представления результатов измерений приоценивании однородности
дисперсных материалов

Таблица А.1

Номер пробы

Номер результата

1

2

3

4

1

X11

X12

X1j

2

X21

X22

X2j

N

XN1

XN2

XNj

ПРИЛОЖЕНИЕ Б
(справочное)

Пример оценивания однородности дисперсногоматериала

Материал СО - черноземная почва.Аттестуемый компонент - оксид калия. Среднее квадратическое отклонение случайнойпогрешности SМВИ равно 0,11 %, допускаемое значение погрешностиаттестованного значения СО - 0,25 %.

Вычисляют отношение Q для расчета числа отбираемыхпроб:

Q = 0,25/0,11 = 2,3.

Количество многократных измерений J = 3. По этим данным всоответствии с таблицей 1 находят число отбираемых проб N = 18. Массаотбираемой пробы для исследования однородности М0 = 1г.

Результаты измерений Хnj - записывают в таблицу (таблица Б.1).

Таблица Б.1

Номер пробы

Номер результата j

1

2

3

 

1

2,18

2,20

2,23

2,20

 

2

2,27

2,20

2,12

2,20

 

3

2,19

2,26

2,05

2,17

 

4

2,34

2,28

2,21

2,28

 

5

2,26

2,36

2,34

2,32

 

6

2,30

2,33

2,28

2,30

 

7

2,07

2,17

2,08

2,11

 

8

2,21

2,26

2,29

2,25

 

9

2,42

2,19

2,27

2,29

 

10

2,22

2,21

2,24

2,22

 

11

2,11

2,14

2,17

2,14

 

12

2,29

2,36

2,18

2,28

 

13

2,11

2,25

2,02

2,13

 

14

2,13

2,28

2,14

2,18

 

15

2,28

2,11

2,21

2,20

 

16

2,23

2,12

2,18

2,18

 

17

2,04

2,20

2,08

2,11

 

18

2,25

2,24

2,13

2,21

 

По результатам, приведенным втаблице Б.1, вычисляют по формуле (3) средниерезультаты по пробам  и записывают их в последнюю графутаблицы. Вычисляют по формуле (4) суммуквадратов

SSe = 0,1904.

Вычисляют по формуле (3) среднее арифметическое всех результатов , котороесоставило 2,21, и сумму квадратов

SSн = 0,2193.

Вычисляют средние квадраты отклоненийрезультатов внутри проб

и средние квадраты отклонений результатовмежду пробами

Наименьшая представительная проба М для данного аттестуемого компонентаравна 0,5 г.Вычисляют оценку характеристики однородности по формуле (8)

Sн =[(0,0129 - 0,005289) * (l/0,5)/3]0,5= 0,07 %.

ПРИЛОЖЕНИЕ В
(справочное)

Форма представления результатов измерений приоценивании однородности монолитных материалов для спектрального анализа

Таблица В.1

Номер СО
i

Номер
аналитической
поверхности
j

Номер измерения n

Тij

T2ij/2

Тi

T2i/4

SSi

1

2

1

1

X111

X112

Т11

T211/2

T1

T21/4

SS1

2

X121

X122

Т12

T212/2

2

1

X211

X212

Т11

T221/2

T2

Т22/4

SS2

2

X221

X222

Т22

T222/2

i

1

Xi11

Xi22

Тi1

T2i1/2

Ti

T2i/4

SSi

2

Xi21

Xi22

Тi2

T2i2/2

К

1

XК11

XК12

ТК1

T2К1/2

ТК

T2К/4

SSK

2

XК21

XК22

ТК2

T2К2/2

Суммы

-

-

-

V

VI

VII

VIII

IX

ПРИЛОЖЕНИЕ Г
(справочное)

Пример оценивания однородности монолитногоматериала для спектрального анализа

Материал СО - бронза. Аттестуемыйкомпонент - олово.

Однородность СО исследована методомэмиссионного спектрального анализа по ГОСТ9716.2.

Результаты измерений Xijn записывают в таблицу.

Таблица Г.1

Номер СО
i

Номер поверхности
j

Номер измерения n

Tij

T2ij/2

Тi

T2i/4

SSi

1

2

1

1

2

4,06

4,21

4,06

4,10

8,12

8,31

32,9672

34,2805

16,43

67,4862

67,5013

2

1

2

4,29

4,21

4,04

4,30

8,33

8,51

34,6944

36,2100

16,84

70,8964

70,9398

3

1

2

4,22

4,40

4,26

4,68

8,48

9,08

35,9552

41,2232

17,56

77,0884

77,2184

4

1

2

4,19

4,13

4,29

4,54

8,48

8,67

35,9552

37,5844

17,15

73,5306

73,6287

5

1

2

3,99

4,42

4,07

4,47

8,06

8,89

32,4818

39,5160

16,95

71,8256

72,0023

6

1

2

4,12

4,79

4,35

4,53

8,47

9,32

35,8704

43,4312

17,79

79,1210

79,3619

7

1

2

4,25

4,59

4,28

4,59

8,53

9,18

36,3804

42,1362

17,71

78,4110

78,5171

8

1

2

4,56

4,68

4,52

4,71

9,08

9,39

41,2232

44,0860

18,47

85,2852

85,3105

9

1

2

4,38

4,43

4,30

4,26

8,68

8,69

37,6712

37,7580

17,37

75,4292

75,4469

10

1

2

4,40

4,55

4,29

4,46

8,69

9,01

37,7580

40,5900

17,70

78,3225

78,3582

11

1

2

4,25

4,51

4,51

4,55

8,76

9,06

38,3688

41,0418

17,82

79,3881

79,4452

12

1

2

4,35

4,71

4,30

4,78

8,65

9,49

37,4112

45,0300

18,14

82,2649

82,4450

13

1

2

4,41

4,48

4,39

4,43

8,80

8,91

38,7200

39,6940

17,71

78,4110

78,4155

14

1

2

4,08

4,69

4,15

4,62

8,23

9,31

33,8664

42,3380

17,54

76,9129

77,2094

15

1

2

4,13

4,44

4,40

4,61

8,53

9,05

36,3804

40,9512

17,58

77,2641

77,3826

16

1

2

4,80

4,54

4,67

4,60

9,47

9,14

44,8404

41,7698

18,61

86,5830

86,6205

17

1

2

4,23

4,53

4,36

4,69

8,59

9,22

36,8940

42,5042

17,81

79,2990

79,4195

18

1

2

4,55

4,82

4,64

4,56

9,19

9,38

42,2280

43,9922

18,57

86,2112

86,2581

19

1

2

4,20

4,72

4,45

4,79

8,65

9,51

37,4112

45,2200

18,16

82,4464

82,6650

20

1

2

4,62

4,55

4,32

4,61

8,94

8,16

39,9618

41,9528

18,10

81,9025

81,9614

21

1

2

4,34

4,63

4,44

4,60

8,75

9,23

38,2812

42,5964

17,98

80,8201

81,1461

22

1

2

4,44

4,55

4,64

4,70

9,08

9,25

41,2232

42,7812

18,33

83,9972

84,0357

23

1

2

4,44

4,72

4,29

4,70

8,70

9,42

37,8450

44,3682

18,12

82,0836

82,4861

24

1

2

4,43

4,53

4,40

4,60

8,83

9,13

38,9844

41,6784

17,96

80,6404

80,6658

25

1

2

4,51

4,61

4,32

4,59

8,83

9,20

38,9844

42,3200

18,03

81,2702

81,3227

Суммы

-

-

-

V

VI

VII

VIII

IX

Суммируют последние столбцы таблицы и получают следующиесуммы:

V = 444,43;

VI = 1978,4111;

VII = 444,43;

VIII = 1976,8912;

IX = 1979,7637.

Вычисляют по формулам (17)- (20) суммы квадратов:

SSBL = 1976,8912 -(444,43)2/(4 * 25) = 1,7110;

SSBB = 1978,4111 -1976,8912 = 1,5199;

SSW = 1979,7637 -1978,4111 = 1,3526;

SST = 1979,7637 - (444,43)2/(4 * 25) = 4,5835.

Проверяют по формуле (21)выполнение соотношения между суммами квадратов

1,7110 + 1,5199 + 1,3526 = 4,5835.

Вычисляют по формулам (22)- (24) средние квадраты:

MSBL = 1,7110/(25 - 1) =0,07129;

MSBB = 1,5199/25 =0,06080;

MSW = 1,3526/(2 * 25) =0,09167.

Для данного случая выполняется следующее соотношениемежду средними квадратами:

MSW > MSBB, MSBB < MSBL.

Следовательно, оценку характеристикоднородности Sмак и Sмик проводят по формулам второй строки таблицы2.

Вычисляют по формуле (27)

и по формуле (25)

Sм = (l/3) * (0,09167)0,5 = 0,1009.

Характеристика макронеоднородности

Sмак =(0,002622)0,5 = 0,051,

а характеристика микронеоднородности при m = 2

Sмик =0,1009/(2)0,5 = 0,071.

По этим характеристикам оцениваютхарактеристику однородности по формуле (27)

Sн = (0,0512+ 0,0712)0,5 = 0,09.

Ключевые слова: стандартные образцы, однородность, монолитныематериалы, дисперсные материалы