ГОСТ 8.593-2009 - Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки

ГОСТ 8.593-2009

Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки

Обозначение:ГОСТ 8.593-2009
Статус:действующий
Название рус.:Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки
Название англ.:State system for ensuring the uniformity of measurements. Atomic-force scanning probe microscopes. Method for verification
Дата актуализации текста:01.08.2013
Дата актуализации описания:01.08.2013
Дата введения в действие:01.11.2010
Область и условия применения:Настоящий стандарт распространяется на сканирующие зондовые атомно-силовые микроскопы, применяемые для измерений линейных размеров в диапазоне от 10 (в степени минус девять) до 10 (в степени минус шесть) м, и устанавливает методику их первичной и периодических поверок с использованием рельефных мер по ГОСТ 8.591 и ГОСТ 8.592


ГОСТ 8.593-2009
ГОСТ 8.593-2009
ГОСТ 8.593-2009
ГОСТ 8.593-2009
ГОСТ 8.593-2009
ГОСТ 8.593-2009
ГОСТ 8.593-2009
ГОСТ 8.593-2009
ГОСТ 8.593-2009
ГОСТ 8.593-2009
ГОСТ 8.593-2009
ГОСТ 8.593-2009




События

28 апреля

всемирный день охраны труда

Всемирный день охраны труда