ГОСТ 26239.5-84 - Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей

ГОСТ 26239.5-84

Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей

Обозначение:ГОСТ 26239.5-84
Статус:действующий
Название рус.:Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей
Название англ.:Semiconductor silicon and quartz. Method of impurities determination
Дата актуализации текста:01.08.2013
Дата актуализации описания:01.08.2013
Дата введения в действие:01.01.1986
Область и условия применения:Настоящий стандарт устанавливает нейтронно-активационный метод определения примесей в нелегированном полупроводниковом кремнии и кварце.
Метод не распространяется для анализа кремния марок КЭС-0,01 и КЭМ-0,01
Список изменений:№1 от 01.01.1991 (рег. 26.06.1990) «Срок действия продлен»


ГОСТ 26239.5-84
ГОСТ 26239.5-84
ГОСТ 26239.5-84
ГОСТ 26239.5-84
ГОСТ 26239.5-84
ГОСТ 26239.5-84
ГОСТ 26239.5-84
ГОСТ 26239.5-84
ГОСТ 26239.5-84
ГОСТ 26239.5-84
ГОСТ 26239.5-84
ГОСТ 26239.5-84
ГОСТ 26239.5-84
ГОСТ 26239.5-84
ГОСТ 26239.5-84
ГОСТ 26239.5-84
ГОСТ 26239.5-84
ГОСТ 26239.5-84




События

28 апреля

всемирный день охраны труда

Всемирный день охраны труда